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X線粉末回折実験における角度−強度プロファイルを解析する
このソフトはX線粉末回折実験における角度−強度プロファイルを解析するためのプラグラムです。 主な特徴は ・テキスト形式の角度−強度データ(タブ・カンマ・スペース)区切りのデータを読み込み、表示 ・スムージング、バッググラウンド除去、複数のプロファイルの同時表示が可能 ・任意の結晶(CIF,AMCデータをインポー...
粉末X線回折実験における2次元デバイリングパターンを一次元化する
このソフトは粉末X線および電子回折実験における2次元デバイリングパターンを一次元化するプログラムです。 おもな特徴は ・Rigaku R-Axis, Brucker CCD, Fuji Bas シリーズのデータを読み込み、表示 ・擬似カラー表示、マウスによる拡大縮小、サムネイル表示などのインターフェース ・マル...
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