3件中 1〜3件を表示
X線粉末回折実験における角度−強度プロファイルを解析する
このソフトはX線粉末回折実験における角度−強度プロファイルを解析するためのプラグラムです。 主な特徴は ・テキスト形式の角度−強度データ(タブ・カンマ・スペース)区切りのデータを読み込み、表示 ・スムージング、バッググラウンド除去、複数のプロファイルの同時表示が可能 ・任意の結晶(CIF,AMCデータをインポー...
透過型電子顕微鏡(TEM)の電子線回折像(Diffraction)を解析
工学や理学の材料・物性分野で使われる、透過型電子顕微鏡(TEM)の電子線回折像(Diffraction)を解析するソフトです。 このソフトによって、特に多結晶・粉末状試料・ナノ粒子の回折像から、物質の構造を解析し、物質を同定することができます。...
粉末X線回折実験における2次元デバイリングパターンを一次元化する
このソフトは粉末X線および電子回折実験における2次元デバイリングパターンを一次元化するプログラムです。 おもな特徴は ・Rigaku R-Axis, Brucker CCD, Fuji Bas シリーズのデータを読み込み、表示 ・擬似カラー表示、マウスによる拡大縮小、サムネイル表示などのインターフェース ・マル...
1